產(chǎn)品
更新時(shí)間:2025-04-12返回產(chǎn)品中心
類(lèi)型
產(chǎn)地
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共找到192條
產(chǎn)品信息
HITACHI手持式X射線熒光分析儀X-MET8000
DTM-CBCITIZEN(西鐵城牌)DTM-CB電子
IPD-P510CITIZEN(西鐵城牌)IPD-P510標(biāo)
IPD-P510NCITIZEN(西鐵城牌)IPD-P510N附
LG-200V朗光X-ray無(wú)損檢測(cè)設(shè)備
LG-200VX-ray無(wú)損檢測(cè)設(shè)備x-ray檢測(cè)
LG-200VX-ray無(wú)損檢測(cè)設(shè)備
XR75eX射線異物檢測(cè)機(jī)
金屬探測(cè)器
X射線異物檢測(cè)機(jī)
ZEX-50X-RAY分析檢查機(jī)
ScanXmate-L090HCOMSCAN多功能X射線檢測(cè)機(jī)
ScanXmate-L090TCOMSCAN多功能X射線檢測(cè)機(jī)
ScanXmate-S090RCOMSCAN多功能X射線檢測(cè)機(jī)
ScanXmate-DTCOMSCAN微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)機(jī)
異物測(cè)定裝置
TOSCANER-24500twin非破壞檢測(cè)系統(tǒng)
TOSCANER-34500FD非破壞檢測(cè)系統(tǒng)
TXS-33000FD非破壞檢測(cè)系統(tǒng)
TXS-32300FD非破壞檢測(cè)系統(tǒng)
TXS-31300FD非破壞檢測(cè)系統(tǒng)
TXS-30900FD非破壞檢測(cè)系統(tǒng)
TXV-S4130FD非破壞檢測(cè)系統(tǒng)
TXV-S4090FD非破壞檢測(cè)系統(tǒng)
SU-001晶體方位檢測(cè)系統(tǒng)
SU-003晶體方位測(cè)量設(shè)備
SU-021晶體方位測(cè)量設(shè)備
TXV-CH4090FDX射線無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)
TXP-5150FDX射線無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)
XR75系列X射線異物檢測(cè)機(jī)
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對(duì)比框