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產(chǎn)品敘述真正的可攜帶型探傷儀真正讓用戶確實完整的檢測出掃描的數(shù)據(jù)，並可隨時回放圖譜，確保材料的完整性

超音波探傷儀

產(chǎn)品敘述為新一代產(chǎn)品，是EPIPHOTTME300/200型金相顯微鏡的後續(xù)機種，支持明視野、暗視野、微分干涉、螢光、簡易偏光等觀察方式，具有結(jié)構(gòu)緊湊、操作方便...

產(chǎn)品敘述NIS-Elements系列Nikon全新的NIS-Elements系列顯微圖像處理軟體，是Nikon為了實現(xiàn)顯微鏡控制、顯微圖像捕捉、文檔資料管理以及...

產(chǎn)品敘述GrainSize(晶粒大小)根據(jù)ASTME112-88及E1382定義之分析規(guī)範(fàn)標(biāo)準(zhǔn)計算晶粒度號數(shù)

產(chǎn)品敘述SMZ745/SMZ745TNIKON的實體顯微鏡具有7.5倍變焦和115毫米工作距離NIKONSMZ745顯微鏡具有7.5倍的變焦和115毫米的長工作...

產(chǎn)品敘述SMZ445/SMZ460高性價比的實體顯微鏡SMZ445和SMZ460具有NIKON實體變焦顯微鏡所期望的光學(xué)性能

產(chǎn)品敘述測定工具顯微鏡鏡頭是廣視野正立像式顯微鏡

產(chǎn)品敘述RoundSeriesModel-SKKSKK-ATheusageisexpandedwhenthisisusedincombinationwitham...

PEAK 放大鏡

產(chǎn)品敘述環(huán)牙規(guī)、量規(guī)、螺紋塞規(guī)、螺紋環(huán)規(guī)螺紋環(huán)牙規(guī)JIS規(guī)格及ISO規(guī)格的差異點ISO等級測量方式，通、止均沒有檢查用和加工用的區(qū)別

產(chǎn)品敘述此系列用於校正分厘卡的儀器誤差，主軸進(jìn)給誤差（示例1）以及每1/4圈的平行度和平面主軸和砧座（示例2）

產(chǎn)品敘述TW系列為鋼製製品TWW系列為超硬合金製品TWZ系列為陶瓷製品有效徑的求取方式有效徑E=M-3dm+0

產(chǎn)品敘述螺紋位置規(guī)系列說明牙規(guī)和針規(guī)的融合，螺紋部份為通過之塞規(guī)，可進(jìn)行孔位高精度量測

產(chǎn)品敘述猶如手動工具般的簡易使用，版便於攜帶的小型表面粗度計小型、輕巧、操作性非凡，搭載2.4吋具背光LCD彩色螢?zāi)?，可在顯示幕上表示表面粗糙度的波形，即使在昏...

178系列 SJ-410 表面粗度計

產(chǎn)品敘述簡單上手兼具豐富多彩的量測、分析功能，便於攜帶的小型表面粗糙度量測儀採用大型5.7吋LCD彩色觸控螢?zāi)唬@示功能更加豐富，具備背光可大幅提升在陰暗地點工...

產(chǎn)品敘述VML系列3D光學(xué)影像測量儀VML系列是一款初級3D光學(xué)影像測量儀，影像可實現(xiàn)28-180連續(xù)變倍，Z軸裝有光學(xué)尺，可影像測量高度，同時可選配英國REN...

產(chǎn)品敘述MEI-1附高精度分厘卡調(diào)整可以進(jìn)行外徑值的測量可以配備3M-100量表,或是視需要搭配DIGMETRON,ELEMETRON等電子量表可以控制調(diào)整測定...

產(chǎn)品敘述指示量表Mu-Metron系列提供高精度的工業(yè)用測定器，具備了高精度、高感度、高安定性的特性，同時更具有耐久、耐衝擊的特點