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詳細(xì)摘要： 要保證您的工件始終具有高品質(zhì)，您需要精確可靠的量測系統(tǒng)。Formline Roundscan在單個測量運(yùn)行中結(jié)合形狀和粗度量測。您能夠使用單個探測系統(tǒng)測量零件的...

詳細(xì)摘要： Evovis量測分析軟體為粗度和輪廓測量提供統(tǒng)一的操作介面，操作邏輯清晰並配有豐富的協(xié)助工具，可根據(jù)需求設(shè)計(jì)獨(dú)特的測量任務(wù)。其應(yīng)用範(fàn)圍廣泛，無論是簡單量測單個特...

詳細(xì)摘要： 使用F435和F455真圓度機(jī)，您可以精確測定工件的圓度、圓柱度和平整度。量測系統(tǒng)會使用CNC控制的三個測量軸自動對準(zhǔn)零件並檢查形狀和位置公差。因此，所需的工作...

詳細(xì)摘要： Waveline W20無導(dǎo)頭型探測系統(tǒng)專為執(zhí)行移動式粗度量測而設(shè)計(jì)。它不僅量測所有常見的粗度參數(shù)，而且評估工件表面的波度和總輪廓。該測量儀特別緊湊，便於攜帶。...

詳細(xì)摘要： Waveline W10粗度儀非常適合用於進(jìn)行移動式粗度測量，讓您可以在生產(chǎn)過程本身中監(jiān)測工件的表面品質(zhì)。這款實(shí)用的測量系統(tǒng)具有廣泛的功能。它在橫向探測期間以及...

詳細(xì)摘要： W900測量系統(tǒng)配有快速測量軸，即使遇到複雜的測量任務(wù)，也能保證快速的測量速度，因此能滿足客戶極高的要求。高精度的驅(qū)動箱與Nanoscan Ⅱ感測器組合，可用於...

詳細(xì)摘要： 緊湊型熱感式印表機(jī)使用藍(lán)牙(無需電纜)將測量結(jié)果當(dāng)場記錄下來。因此，粗度儀即使在測量需要被記錄下來的情況下仍保持移動性。

詳細(xì)摘要： Waveline W5移動式測量儀的粗度測量可靠且高度精密，令人印象深刻。系統(tǒng)可以精確定位在零件上，而且不會滑動。重量很輕，採用緊湊設(shè)計(jì)，這意味可將其輕鬆用於移...

詳細(xì)摘要： RenAM 500S屬於Renishaw RenAM 500系列積層製造機(jī)的一部分，專門設(shè)計(jì)用於在生產(chǎn)環(huán)境建構(gòu)金屬元件。RenAM 500S可輕鬆升級為四雷射系...

詳細(xì)摘要： RenAM 500Q是Renishaw的多重雷射AM系統(tǒng)，其中配備四個高功率500 W雷射，每個雷射可同時進(jìn)入整個粉床表面。RenAM 500Q大幅提升製造速率...

詳細(xì)摘要： HS20長距離雷射光學(xué)尺，適合應(yīng)用於較嚴(yán)苛之工業(yè)環(huán)境，最長距離可達(dá)60m，是許多長軸工具機(jī)理想的干涉儀應(yīng)用解決方案。HS20雷射頭結(jié)合外部線性光學(xué)鏡組套件，構(gòu)成...

詳細(xì)摘要： RLE系統(tǒng)為獨(dú)特先進(jìn)零差雷射干涉儀系統(tǒng)，專為位置回饋應(yīng)用所設(shè)計(jì)。各RLE系統(tǒng)由一個RLU雷射裝置及一個或兩個RLD10檢測頭組成，使用機(jī)型取決於特定應(yīng)用的需求。

詳細(xì)摘要： OnAxis磁性感測器IC適用於超過360°非接觸式角度位置編碼。廣泛的產(chǎn)品組合可提供式和增量式輸出，其中包括SSI、平行、增量、正弦/餘弦和線性電壓，還有二進(jìn)...

詳細(xì)摘要： RESR、RESM和RESA環(huán)型光學(xué)尺是一體式不銹鋼圓環(huán)，將精細(xì)柵線直接刻劃到柱面上。RESR和RESM環(huán)型光學(xué)尺採用增量式柵尺，RESM型號採用IN-TRAC...

詳細(xì)摘要： RESR、RESM和RESA環(huán)型光學(xué)尺是一體式不銹鋼圓環(huán)，將精細(xì)柵線直接刻劃到柱面上。RESR和RESM環(huán)型光學(xué)尺採用增量式柵尺，RESM型號採用IN-TRAC...

詳細(xì)摘要： RESOLUTE是真正式精細(xì)刻距光學(xué)編碼器系統(tǒng)，該系統(tǒng)能夠抵擋汙物，其規(guī)格令人印象深刻，為位置回饋領(lǐng)域帶來新的突破。RESOLUTE是一個式編碼器，在線性系統(tǒng)應(yīng)...

詳細(xì)摘要： EVOLUTE系列根據(jù)Renishaw經(jīng)業(yè)界認(rèn)可的式技術(shù)而打造，是真正非接觸式線性光學(xué)編碼器，具有50um光學(xué)尺週期，可帶來的安裝公差和更優(yōu)異的抗汙能力，非常適...

詳細(xì)摘要： 是一款結(jié)合超高精度和超小型的數(shù)位增量光學(xué)尺，透過優(yōu)異的量測性能、高速度和高可靠性，提供直接數(shù)位位置回饋的光學(xué)尺系統(tǒng)。

詳細(xì)摘要： TONiC系列是Renishaw的超輕巧型非接觸增量式光學(xué)尺系統(tǒng)，如與Ti 介面結(jié)合，在線性和旋轉(zhuǎn)應(yīng)用中，均可達(dá)到10 m/s的速度和低至1 nm的解析度。TO...

詳細(xì)摘要： TONiC UHV將Renishaw的超輕巧型非接觸式編碼器系統(tǒng)引進(jìn)超高真空應(yīng)用，為客戶帶來更佳的運(yùn)動控制性能。TONiC UHV讀頭將標(biāo)準(zhǔn)TONiC的優(yōu)異性能...