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日本Union DZ2-IR紅外觀察測量 顯微鏡 半導體封裝

時間:2023/11/12閱讀:122
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DZ2-IR日本Union紅外觀察測量顯微鏡半導體封裝

主題:日本Union紅外觀察測量顯微鏡


型號:DZ2-IR


品牌:日本UNION


應用于半導體各種封裝內部結構的測量


特點:

1.650~1200nm波長光學系統(tǒng)從可見光到近紅外光范圍。

2.無級變倍放大倍率(1.5X~15X)或(5X~50X)。不需要更換物鏡,同時具備高的工作距離。 3.配置Uni-Measure測量軟件,進行大尺寸移動測量,或微觀的小尺寸測量。

4.配備表面和透射的紅外光照明,能很好應用于半導體各種封裝內部結構的

觀察,如BGA,CSP,COF和晶圓級封裝等。


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