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MarSurf M 400.較好的移動設(shè)備
測量室以及生產(chǎn)領(lǐng)域都越來越需要無導塊掃描的表面評估。
這通常需要更熟練的操作員，更多時間和更多調(diào)整工作。
MarSurf M 400 在“移動表面度量"范圍內(nèi)提供了必要的功能，而且快速、簡單易用。
移動和固定測量儀器
粗糙度和波紋度測量
掃描長度高達 26 mm
超過 50 R，W 和 P 表面參數(shù)
根據(jù)標準自動選擇截止和掃描長度
動態(tài)校準功能
驅(qū)動裝置和評估儀器之間可選有線和藍牙連接 (4 m)
磁性測頭支架（獨立測頭）BFW 250
機動測頭歸零設(shè)置（最大 7.5 mm）
測量原則 | 探針法 |
輸入 | 感應(yīng)式滑動測頭 |
測量范圍 mm | BFW 無導塊系統(tǒng) |
輪廓分辨率 | 測量范圍 +/- 250 µm：8 nm 測量范圍 +/- 25 µm：0.8 nm |
過濾器符合 ISO/JIS 標準 | ISO 11562 標準高斯濾波 ISO 13565 標準濾波 |
采樣長度數(shù)量符合 ISO/JIS | 1-5 |
接觸速度 | 0,2 mm/s; 1,0 mm/s |
測量力 (N) | 0.75 mN |
重量驅(qū)動單元 | 約 0.9 kg |
重量測量儀 | 約 1.0 kg |
表面參數(shù) | 超過 50 種符合當前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數(shù)可用于 R-、P- 和 W |
可選附件
測量立柱：ST-D、ST-F 和 ST-G，測量立柱上的支架
其他附件：CT 120 XY 工作臺，平行虎鉗，V 形塊，用于帶 BFW 測頭系統(tǒng)的測桿
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