實(shí)驗(yàn)室中的同步加速器性能

　　使用蔡司Xradia 800 Ultra X射線顯微鏡，可實(shí)現(xiàn)低至50 nm的空間分辨率，是基于實(shí)驗(yàn)室的X射線成像系統(tǒng)中較高的。 隨著非破壞性3D成像在當(dāng)今的突破性研究中發(fā)揮至關(guān)重要的作用，您將在基于實(shí)驗(yàn)室的超高分辨率系統(tǒng)中體驗(yàn)的性能。 創(chuàng)新的Xradia Ultra架構(gòu)采用吸收和相位對(duì)比成像模式以及8 keV的X射線能量，采用同步加速器改造的光學(xué)元件。 使用Xradia 800 Ultra，期望獲得的原位和4D功能，用于研究材料隨時(shí)間的演變，并擴(kuò)展材料科學(xué)，生命科學(xué)，自然資源和各種工業(yè)應(yīng)用中使用的X射線成像的極限。

　　亮點(diǎn)

　　Xradia 800 Ultra的分辨率高達(dá)50 nm，可讓您深入了解以前無(wú)法通過(guò)傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室X射線技術(shù)獲得的微觀結(jié)構(gòu)和工藝。 使用8 keV X射線進(jìn)行操作可為各種材料提供出色的穿透力和對(duì)比度，使您能夠觀察其自然狀態(tài)下的結(jié)構(gòu)和材料。

　　蔡司Xradia 800 Ultra提供可靠的內(nèi)部3D信息，否則只能通過(guò)橫截面等破壞性方法訪問(wèn)。 大工作距離和大氣樣本環(huán)境使您可以輕松地進(jìn)行原位研究。

　　優(yōu)勢(shì)

• 　　非破壞性3D X射線成像允許重復(fù)成像相同樣品，允許直接觀察微觀結(jié)構(gòu)演變
• 　　保持低至50nm的高分辨率用于原位裝置內(nèi)的樣品成像
• 　　用于斷層攝影重建的自動(dòng)圖像對(duì)準(zhǔn)
• 　　可切換的視場(chǎng)范圍從15到60μm
• 　　吸收和Zernike相襯成像模式
• 　　在您的實(shí)驗(yàn)室中開(kāi)發(fā)，準(zhǔn)備和測(cè)試您計(jì)劃的同步加速器實(shí)驗(yàn)，以提高同步加速器光束時(shí)間的有效性
• 　　現(xiàn)在，Scout-and-Scan控制系統(tǒng)具有簡(jiǎn)單的基于工作流程的用戶(hù)界面，非常適合成像實(shí)驗(yàn)室，用戶(hù)可以擁有各種各樣的經(jīng)驗(yàn)水平