當今微電子薄膜，光學薄膜，抗氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導薄膜等在工業(yè)生產(chǎn)和人類生活中的不斷應(yīng)用，在工業(yè)生產(chǎn)的薄膜，其厚度是一個非常重要的參數(shù)，直接關(guān)系到該薄膜材料能否正常工作。如大規(guī)模集成電路的生產(chǎn)工藝中的各種薄膜，由于電路集成程度的不斷提高，薄膜厚度的任何微小變化，對集成電路的性能都會產(chǎn)生直接的影響。除此之外，薄膜材料的力學性能，透光性能，磁性能，熱導率，表面結(jié)構(gòu)等都與厚度有著密切的關(guān)聯(lián)。

    那么薄膜材料的厚度是用什么儀器測試？

電腦式薄膜測厚儀

    薄膜材料的厚度測試可以用電腦式薄膜測厚儀CHY-U，該儀器主要用于薄膜、電池隔膜、太陽能電池硅片、紙張、膠帶等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度測量。是一款超高測試誤差的全自動測厚儀，測厚儀被廣泛應(yīng)用于質(zhì)檢機構(gòu)、薄膜生產(chǎn)廠家、光伏廠等單位。該儀器采用微電腦控制、大液晶顯示；手動、自動雙重測量模式，配備高精度傳感器，測量頭自動升降，避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差，保證了測試誤差。儀器自動保存多100組測試結(jié)果，打印大值、小值、平均值及每次測量結(jié)果，方便 用戶分析數(shù)據(jù)。

    薄膜材料的厚度測試用電腦式薄膜測厚儀CHY-U的技術(shù)參數(shù)：

    測量范圍：0-2mm （其他量程可定制 
    分辨率：0.1um 
    測量速度：10次/min（可調(diào)） 
    測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張） 
    接觸面積 ：50mm²（薄膜），200mm²（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種 
    進樣步矩：0 ～ 1300 mm(可調(diào)) 
    進樣速度：0 ～ 120 mm/s(可調(diào)) 
    機器尺寸：450mm×340mm×390mm (長寬高) 
    重       量：23Kg 
    工作溫度：15℃-50℃ 
    相對濕度：小于等于80%,無凝露 
    試驗環(huán)境：無震動，無電磁干擾 
    工作電源：220V 50Hz 

    濟南三泉中石實驗儀器有限公司生產(chǎn)的電腦式薄膜測厚儀CHY-U是專門用來檢測薄膜材料的厚度的儀器，本公司還生產(chǎn)薄膜的拉伸強度、撕裂強度、落鏢沖擊強度、熱合強度等物理性檢測儀器，如果您對這些儀器感興趣請致電三泉中石銷售部。