真空衰減法檢漏儀LEAK-S采用的真空衰減法*符合ASTM測(cè)試方法和FDA標(biāo)準(zhǔn)，適用于微量泄漏檢測(cè)、密閉容器完整性檢漏。本文將對(duì)該儀器進(jìn)行簡(jiǎn)單介紹。

　　真空衰減法檢漏儀型號(hào)LEAK-S，是濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司自主研發(fā)生產(chǎn)的。

　　真空衰減法檢漏儀LEAK-S采用的真空衰減法*符合ASTM測(cè)試方法和FDA標(biāo)準(zhǔn)，適用于微量泄漏檢測(cè)、密閉容器完整性檢漏，是一臺(tái)為空/滿的注射器、有液體/凍干的小瓶以及其他含有液體的包裝（無(wú)論柔軟還是堅(jiān)硬的）提供高精度無(wú)損檢測(cè)的系統(tǒng)。測(cè)試上述類(lèi)型的產(chǎn)品要求很高的靈敏度、可重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

　　真空衰減法檢漏儀廠家設(shè)計(jì)原理，連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來(lái)容納需要被測(cè)試的包裝的測(cè)試腔，包裝被置于要被抽真空的測(cè)試腔內(nèi)，雙傳感器技術(shù)不僅用來(lái)監(jiān)測(cè)真空度同樣也監(jiān)測(cè)預(yù)定測(cè)試時(shí)間段中的真空變化。真空和真空差壓的變化暗示了當(dāng)前包裝中存在泄漏和缺陷。一項(xiàng)測(cè)試的靈敏度取決于傳感器的靈敏度、包裝的形式、包裝測(cè)試時(shí)的夾具以及測(cè)試中的關(guān)鍵參數(shù)：時(shí)間和壓力。測(cè)試系統(tǒng)可以設(shè)置人工或自動(dòng)操作。這種檢測(cè)方式適合實(shí)驗(yàn)室離線操作和質(zhì)保 / 質(zhì)檢部門(mén)數(shù)據(jù)過(guò)程控制。整個(gè)過(guò)程僅僅用時(shí)幾秒鐘，測(cè)試結(jié)果非?？陀^，而且測(cè)試對(duì)產(chǎn)品和包裝是無(wú)損的。

　　優(yōu)點(diǎn)：

　　1.非破壞性、無(wú)損、無(wú)需樣品準(zhǔn)備

　　2.可檢測(cè)到0.05ccm小的漏點(diǎn) （直徑約為 1.5微米）

　　3.別的靈敏度、重復(fù)性、準(zhǔn)確性

　　4.結(jié)論證明比染色法更好、更可靠

　　5.支持可持續(xù)包裝，符合零浪費(fèi)的倡議

　　6.ASTM測(cè)試方法和FDA標(biāo)準(zhǔn)

　　真空衰減法檢漏儀是一款比較的密封性檢測(cè)儀器，主要檢測(cè)小容量注射劑、西林瓶、安瓿瓶、預(yù)灌封等產(chǎn)品的密封性，另外，三泉中石還用正壓密封性測(cè)試儀、負(fù)壓密封性測(cè)試儀等。